机译:结合加速辐射测试和故障注入的结果来预测基于SRAM的FPGA中实现的应用的错误率
机译:质子诱导的基于SRAM的FPGA的I / O块中的辐射效应
机译:CERN混合场辐射环境下深亚微米基于SRAM的FPGA的辐射效应
机译:使用质子辐射测试验证总基于SRAM的FPGA策略
机译:基于SRAM的FPGA中实现的软核处理器的硬件和软件容错
机译:通过利用照射暴露来提高基于SRAM的真实随机数发生器的性能
机译:基于SRAM的FPGA辐射耐受性,用于LHCB实验读出电子设备的潜在用途